JTAG （Joint Test Action Group，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议（与IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线，分别是模式选择TMS、时钟TCK、数据输入TDI和数据输出TDO线。

    一个含有JTAG Debug接口模块的CPU，只要时钟正常，就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备，如FLASH、RAM、SOC（系统级芯片，如4510B、44Box、AT91M系列）和内置模块的寄存器。
    JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System rogrammable，在线编程），对FLASH等器件进行编程。在实际使用中，常通过JTAG接口进行以下两类操作：一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题，另一类用于排除程序故障（Debug）。
    总之，通过JTAG接口可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前，JTAG接口的有两种标准，即14针接口和20针接口，其引脚定义见表1。

    上面所述只是JTAG接口所具备的能力，要使用这些功能，还需要软件的配合，具体实现的功能则由具体的软件决定，例如要使用外接的．RAM，需要参照SOC DataSheet的寄存器说明，设置R.AM的基地址、总线宽度和访问速度等参数。有的SOC还需要重新定义集成块的LBA地址，这样才能正常工作。