在当今的智能手机维修当中，我们面对新的手机时，往往总无法快速、准确地定位故障点。这也给手机维修带来很多困扰。总不能一个个元件地尝试拆换，这样不但耽误时间，走弯路，更造成了维修资源的严重浪费，而使得手机维修变成了一个“焊工”。那怎样改变如此的现状呢？既然已是山前无路，那我们得另辟蹊径！通过实践反复测试，以及经常与各位老师、同行讨论研究，从中发现从手机启动到开机之前的中央处理器CPU的工作状态，可以快速地判断出手机不开机的故障点，为维修同行带来一个全新的思路和方法！下面以二星19500智能手机不开机故障点的另类快速测量、判断、检修方法及维修为例，进行剖析，只要掌握此机的开机原理和维修方法，也可以举一反三地推广到其他手机的维修当中。

    一、三星I9500手机AP应用CPU的工作条件与工作顺序

    要想通过手机CPU的工作状态来快速判断故障点，这就要求我们首先必须熟悉CPU工作条件以及工作时序。在这里仅针对“手机从启动到完全启动前”这段时间CPU的工作状态进行研究。
    1．正常供电
    一部手机的AP应用CPU要想正常启动工作，第一步就是要得到正常的供电。而三星19500手机AP应用部分的CPU UCP5000，要正常开机的话，必须具备以下5路稳压供电的输入。
   （1） VMIF 1.0V- AP，1．0V，测试点：C5057，如图1所示。

   （2） VAP M_1.0V AP：1.0V，测试点：C5002，如图2所示。

   （3）VINT＿1.0V AP，1.0V，测试点：C5013，如图3所示。

   （4）VG3D＿1.0V AP，1.0V，测试点：C5008，如图4所示。

   （5）VMEM_1.2V＿AP，1.2V，测试点：C5020，如图5所示。

    在实际维修当中，我们只需用数字万用表测量AP应用CPUUCP5000的五路供电有无就可大概判断出故障点，其具体的电路测试点：VMIF＿1.0V＿AP，1.0V（测试点：C5057）、VARM_1.0V_AP：1.0v（测试点：C5002）、VINT_1.0V_AP，1.0V（测试点：C5013）、VG3D_1.0V＿AP，1.0V（测试点：C5008）、VMEM_1.2V＿AP，1.2V（测试点：C5020）。这五路供电的输入在主板对应的具体测量位置如图6所示。

    2．时钟信号
    在智能手机中，AP应用CPU的工作时钟信号都有两种：实时（休眠）时钟信号和主时钟信号。而AP应用CPU有的采用休眠时钟信号，有的则不采用二休眠时钟信号目前通常都是采用32.768kHz晶体的RTC电路来产生；而主时钟信号在手机的发展过程中，各种品牌的手机所设计的频率通常有所不同。而三星19500手机AP应用部分的CPU UCP5000启动必需的两种工  作时钟信号：32.7b8kHz（休眠时钟信号，由相关电路产生）和24MHz（主时钟信号，OSC500。晶体及相关电路产生）等，其电路原理图位置和实物测试点（用示波器测）如图7、图8所示。

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